OPTO-EDU A63.7235 উচ্চ থ্রুপুট ফিল্ড এমিশন স্ক্যানিং ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপ 12KV 600000x
-
বিশেষভাবে তুলে ধরা
ফিল্ড এমিশন স্ক্যানিং ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপ 12KV
,উচ্চ থ্রুপুট স্ক্যানিং মাইক্রোস্কোপ 600000x
,উচ্চ বিবর্ধন সহ OPTO-EDU SEM
-
ইলেক্ট্রন বন্দুকস্কটকি টাইপ তাপীয় ক্ষেত্র নির্গমন ইলেক্ট্রন উত্স বিম বর্তমান স্থায়িত্ব <1%/দিন
-
উদ্দেশ্য লেন্স সিস্টেমসোরিল ™ বৈদ্যুতিন চৌম্বকীয় যৌগিক লেন্সের নমুনা পর্যায় হ্রাস মোড
-
স্ট্যান্ডার্ড কাজের দূরত্ব1.5 মিমি
-
সর্বাধিক দেখার ক্ষেত্র100 এম (স্ট্যান্ডার্ড ওয়ার্কিং দূরত্ব) 1 মিমি (সর্বাধিক কাজের দূরত্ব)
-
ইলেক্ট্রন ডিটেক্টর (স্ট্যান্ডার্ড)ইন-কলাম এসই ডিটেক্টর ইন-লেন্স বিএসই ডিটেক্টর
-
ডাব্লুডি উচ্চতা সনাক্তকরণফোকাস ট্র্যাকিং ™ স্বয়ংক্রিয় ফোকাস ট্র্যাকিং সিস্টেম
-
উৎপত্তি স্থলচীন
-
পরিচিতিমুলক নামCNOEC, OPTO-EDU
-
সাক্ষ্যদানCE, Rohs
-
মডেল নম্বারA63.7230
-
দলিল
-
ন্যূনতম চাহিদার পরিমাণ1 পিসি
-
মূল্যFOB $1~1000, Depend on Order Quantity
-
প্যাকেজিং বিবরণশক্ত কাগজ প্যাকিং, রপ্তানি পরিবহন জন্য
-
ডেলিভারি সময়5~20 দিন
-
পরিশোধের শর্তটি/টি, ওয়েস্ট ইউনিয়ন, পেপাল
-
যোগানের ক্ষমতা5000 পিসি/মাস
OPTO-EDU A63.7235 উচ্চ থ্রুপুট ফিল্ড এমিশন স্ক্যানিং ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপ 12KV 600000x
OPTO-EDU A63.7235 উচ্চ-ক্ষমতা সম্পন্ন ফিল্ড এমিশন স্ক্যানিং ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপ 12KV 600000x
প্রধান বৈশিষ্ট্য
- 1.5nm@1Kv রেজোলিউশন, স্বয়ংক্রিয়ভাবে বৃহৎ আকারের ছবি তৈরি করা (সেমি2 পর্যন্ত)
- ডুয়াল-চ্যানেল সিঙ্ক্রোনাস ইমেজিং SE এবং BSE উভয়ই 100M পিক্সেল/সেকেন্ড
- ঐতিহ্যবাহী ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপের চেয়ে 10 গুণের বেশি ইমেজিং গতি
- ব্যাপক SEM ছবি থেকে ডেটা বিশ্লেষণ রিপোর্টের দ্রুত জেনারেশন
- মিলিমিটার থেকে ন্যানোমিটার পর্যন্ত ক্রস-স্কেল উপাদান বৈশিষ্ট্যকরণ
A63.7235 উচ্চ-ক্ষমতা সম্পন্ন ফিল্ড এমিশন স্ক্যানিং ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপটি ক্রস-স্কেল বৃহৎ আকারের নমুনার SEM বৈশিষ্ট্যকরণ এবং বিশ্লেষণের জন্য ডিজাইন করা হয়েছে, যা গবেষণা এবং শিল্পে ব্যাপকভাবে ব্যবহৃত হয়। এর স্বয়ংক্রিয় অতি-উচ্চ-গতির ন্যানো ইমেজিং প্রযুক্তি একটি অসাধারণ ইমেজিং অভিজ্ঞতা প্রদান করে।
মূল ক্ষমতা:
- 1.5nm@1Kv রেজোলিউশন, স্বয়ংক্রিয়ভাবে বৃহৎ আকারের ছবি তৈরি করা (সেমি2 পর্যন্ত)
- ডুয়াল-চ্যানেল সিঙ্ক্রোনাস ইমেজিং SE এবং BSE উভয়ই 100M পিক্সেল/সেকেন্ড
- ঐতিহ্যবাহী ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপের চেয়ে 10 গুণের বেশি ইমেজিং গতি
- ব্যাপক SEM ছবি থেকে ডেটা বিশ্লেষণ রিপোর্টের দ্রুত জেনারেশন
- মিলিমিটার থেকে ন্যানোমিটার পর্যন্ত ক্রস-স্কেল উপাদান বৈশিষ্ট্যকরণ
Opto-Edu দ্বারা স্বাধীনভাবে তৈরি A63.7235 উচ্চ-ক্ষমতা সম্পন্ন ফিল্ড এমিশন স্ক্যানিং ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপ ইমেজিং প্রযুক্তি, মোশন প্ল্যাটফর্ম, সার্কিট নিয়ন্ত্রণ এবং বুদ্ধিমান অ্যালগরিদমের সিস্টেমেটিক উদ্ভাবনী নকশার মাধ্যমে উচ্চ-ক্ষমতা সম্পন্ন ইমেজিং অর্জন করে, যার ইমেজিং গতি ঐতিহ্যবাহী ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপের চেয়ে কয়েকগুণ বেশি। এটি সরাসরি ইলেকট্রন ডিটেক্টর গ্রহণ করে, যা গতি, নির্ভুলতা এবং নমুনার ক্ষতির ক্ষেত্রে ঐতিহ্যবাহী SEM প্রযুক্তির সীমাবদ্ধতাগুলি কাটিয়ে ওঠে।
প্রযুক্তিগত বৈশিষ্ট্য
| ইলেকট্রন অপটিক্যাল লেন্স | |
|---|---|
| ইলেকট্রন গান | শটকি টাইপ থার্মাল ফিল্ড এমিশন ইলেকট্রন সোর্স বিম কারেন্ট স্থিতিশীলতা<1%/দিন |
| উদ্দেশ্য লেন্স সিস্টেম | SORRIL™ ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক কম্পাউন্ড লেন্স নমুনা স্টেজ ডেসেলারেশন মোড |
| রেজোলিউশন | 1.5 nm @ 1kV 1.3nm @ 3kV |
| ইমারশন ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক লেন্স (*①) | |
| ত্বরণ ভোল্টেজ | 0.1-12 kV ক্রমাগতভাবে নিয়মিত (*②) |
| বিবর্ধন | 500X~600,000X (SEM ছবি) 1X-600X (অপটিক্যাল নেভিগেশন) |
| বিম কারেন্ট | 50pA~30nA (*③) |
| স্ট্যান্ডার্ড ওয়ার্কিং দূরত্ব | 1.5 মিমি |
| সর্বোচ্চ দৃশ্যমান ক্ষেত্র | 100um (স্ট্যান্ডার্ড ওয়ার্কিং দূরত্ব) 1 মিমি (সর্বোচ্চ ওয়ার্কিং দূরত্ব) |
| ইলেকট্রন বিম ব্ল্যাঙ্কার | ইলেক্ট্রোস্ট্যাটিক ব্ল্যাঙ্কার |
উন্নত বৈশিষ্ট্য
▶ অতি-দ্রুত ইমেজিং
- স্বাধীনভাবে তৈরি হার্ডওয়্যার এবং সফ্টওয়্যার ডিজাইনের মাধ্যমে সেকেন্ডারি ইলেকট্রন এবং ব্যাকস্ক্যাটার্ড ইলেকট্রনের ডুয়াল-চ্যানেল সিঙ্ক্রোনাস ইমেজিং অর্জন করা হয়েছে: ভিডিও-স্তরের উচ্চ-রেজোলিউশন ইমেজিং
- হাই-ডেফিনেশন ভিডিও-স্তরের ফ্রেম রেট নমুনার গতিশীল পরিবর্তনগুলি রিয়েল-টাইমে পর্যবেক্ষণের অনুমতি দেয়
▶ উচ্চ ইমেজিং গুণমান
- অনন্য ইমারশন ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক কম্পাউন্ড লেন্স সিস্টেম কার্যকরভাবে অপটিক্যাল অ্যাবারেশন হ্রাস করে
- ইলেক্ট্রোস্ট্যাটিক স্ক্যানিং ডিফ্লেকশন সিস্টেম চিত্রের প্রান্তের বিকৃতি হ্রাস করে
- ইন-লেন্স SE এবং BSE সেমিকন্ডাক্টর ডিরেক্ট ইলেকট্রন ডিটেক্টর ডুয়াল-চ্যানেল যুগপত উচ্চ-গতির ইমেজিং সক্ষম করে
- সক্রিয় ক্ষতিপূরণ সিস্টেম পরিবেশগত হস্তক্ষেপ দূর করে
▶ ক্রস-স্কেল বৃহৎ আকারের ইমেজিং
- সম্পূর্ণ স্বয়ংক্রিয় ফোকাসিং ট্র্যাকিং সিস্টেমের সাথে অতি-উচ্চ-গতির স্ক্যানিং ইমেজিং ক্ষমতা
- A.I. ইমেজ প্রক্রিয়াকরণ অ্যালগরিদম উচ্চ-রেজোলিউশন সম্পূর্ণ স্বয়ংক্রিয় অবিচ্ছিন্ন ম্যাট্রিক্স স্ক্যানিং সক্ষম করে
- স্বয়ংক্রিয়ভাবে বৃহৎ আকারের ন্যানোমিটার-স্তরের রেজোলিউশন প্যানোরামিক ইমেজিং পেতে
▶ বুদ্ধিমান বিশ্লেষণ
- বিগ ডেটা বুদ্ধিমান বিশ্লেষণ, ডেটা বিশ্লেষণ রিপোর্টের দ্রুত জেনারেশন
- বুদ্ধিমান চিত্র প্রক্রিয়াকরণ, কাস্টমাইজড চিত্র পরিমাপ, পরিসংখ্যান এবং বিশ্লেষণ
▶ সাধারণ অপারেশন
- সম্পূর্ণ স্বয়ংক্রিয় নমুনা লোডিং এবং নেভিগেশন, এক-ক্লিক নমুনা প্রতিস্থাপন
- বৃহৎ ক্ষেত্রের অপটিক্যাল ইমেজিং নেভিগেশন SEM ইমেজিংয়ের সাথে নির্বিঘ্নে সংযোগ স্থাপন করে
- 24/7 সম্পূর্ণ স্বয়ংক্রিয় মানববিহীন অপারেশন ক্ষমতা
অ্যাপ্লিকেশন উদাহরণ
স্ক্যানিং ইলেকট্রন মাইক্রোস্কোপির অধীনে মাউস মস্তিষ্ক, হৃদপিণ্ড, লিভার এবং কিডনিতে কোষের মাইক্রোস্ট্রাকচার পর্যবেক্ষণ করুন, লক্ষ্য এলাকার নমুনাগুলিতে সম্পূর্ণ স্বয়ংক্রিয় স্ক্যানিং করতে অ্যারে স্ক্যান ব্যবহার করে।
নমুনাটি একটি অবিচ্ছিন্ন স্লাইসিং পদ্ধতি ব্যবহার করে প্রস্তুত করা হয়, যা শত শত স্লাইস পর্যন্ত সংগ্রহ করে, সেগুলিকে একটি নমুনা বৃত্তের উপর স্থাপন করে এবং একবারে SEM-এ লোড করে।
প্যাথলজিক্যাল বিশ্লেষণ: সম্পূর্ণ স্লাইসের সমস্ত বিস্তারিত তথ্য সংগ্রহ করুন এবং কিডনি টিস্যুতে সাবসেলার অর্গানেল আল্ট্রাস্ট্রাকচার স্পষ্টভাবে পর্যবেক্ষণ করতে যেকোনো এলাকা জুম করুন।
নোট
* দ্রষ্টব্য:
①: ফেরোম্যাগনেটিক উপাদান পর্যবেক্ষণের জন্য ঐচ্ছিক নন-ইমারশন ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক লেন্স
②: ঐচ্ছিক 0~30kV ইলেকট্রন গান
③: ঐচ্ছিক 100nA
④: ঐচ্ছিক লেজার ইন্টারফেরোমিটার
①: ফেরোম্যাগনেটিক উপাদান পর্যবেক্ষণের জন্য ঐচ্ছিক নন-ইমারশন ইলেক্ট্রোম্যাগনেটিক লেন্স
②: ঐচ্ছিক 0~30kV ইলেকট্রন গান
③: ঐচ্ছিক 100nA
④: ঐচ্ছিক লেজার ইন্টারফেরোমিটার
সংশ্লিষ্ট পণ্য
আমাদের পণ্যগুলি সারা বিশ্ব জুড়ে বিক্রি হয় You আপনি আমাদের পণ্যগুলির সম্পূর্ণ প্রক্রিয়া সম্পর্কে নিশ্চিত থাকতে পারেন।